ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВАЯ РАЗМЕРАЯ ОБРАБОТКА (ЭЛРО)
Электронно-лучевыми методами обработки материалов (резки, прошивания, сварки и др.) называются методы, в которых для технологических целей используется тепловая энергия, выделяющаяся при столкновении быстродвижущихся электронов с обрабатываемым материалом. Повышая скорость движения электронов и их кинетическую энергию, а также увеличивая число электронов в пучке (т.е. увеличивая плотность пучка), можно создать чрезвычайно высокую концентрация тепловой энергии в зоне торможения электронного пучка. Размерная обработка материалов электронным лучом осуществляется при плотности тепловой энергии выше 106-109 Вт/см2 . Материал при такой плотности вскипает и испаряется, образуя на детали углубление (отверстие), а при перемещении луча - сквозной или глухой паз. В зоне обработки температура может достигать 6000 °С, а на расстоянии всего лишь 1 мкм от последней - 280-300 °С - отсюда высокая локализация процесса. ЭДРО имеет ряд существенных достоинств, обусловливающих целесообразность её практического применения, а именно; возможность широкой регулировки режимов и тонкого управления тепловыми процессами; пригодность для обработки металлических и неметаллических материалов; повышенная чистота среды при обработке; высокий КПД (до 98%); возможность автоматизации процесса. Недостатки процесса: необходимость защиты от рентгеновского излучения, возникающего при работе на напряжениях свыше 20 кВ; относительно высокая стоимость и сложность оборудования; необходимость высокого вакуума; трудность непосредственного наблюдения за процессом. Для осуществления процесса обработки электронным лучом требуется применение специальных устройств, которые называются электронно-лучевыми (ЭЛ) пушками, излучающих в достаточном количестве и о требуемой скоростью свободные электроны. Схема ЭЛ пушки для размерной обработки представлена на рис. 6.1. Основным элементом пупки является нагреваемый катод II, испускающий электроны, которые формируются полем прикатодного фокусирующего электрода 10, а затем ускоряются под действием разности потенциалов (ускоряющего напряжения) между катодом и анодом 9, после чего электронный луч фокусируется с помощью системы 2 и направляется на обрабатываемое изделие. Для получения луча малого диаметра (от единиц до сотен мкм) применяют V -образный или шпилечный катод (II) (см. рис. 6.1 б). Прикатодный фокусирующий электрод (цилиндр Венельта) (10) на который подается отрицательное напряжение смещения относительно катода, фокусирует электроны в пучок, создавая на некотором расстоянии от катода участок с минимальным радиусом rs , который играет роль фиктивного катода, определяющего величину минимально возможного сечения луча на изделии. Ускоренные и сфокусированные электроны проходят сквозь отверстия в аноде (9) и движутся далее с постоянной скоростью.
Рис. 6.1. Схема электронно-лучевой пушки для размерной обработки (а) , излучателя электронов (б) и профиль отверстия, полученного при обработке (в) : 1- излучатель электронов, 2- фокусирующая система, 3- стол с деталью, 4- микроскоп, 5- длиннофокусная магнитная линза, 6- корректирующие катушки, 7- диафрагмы, 8- короткофокусная магнитная линза, 9- анод, 10- фокусирующий электрод, 11- катод, 12- отклоняющая линза, 13- рабочая камера. Короткофокусная магнитная линза (8) ( F= 2-3 мм) устанавливается ниже анода и может уменьшить электронный луч до 0,5 мкм. Однако наименьшее сечение пятна лежит близко к центру линзы и использовать его для технологических целей очень трудно. Поэтому устанавливается вторая - длиннофокусная линза (5) ( F=30-180 мм), которая переносит луч на деталь без изменения его поперечного сечения и одновременно увеличивает расстояние между линзой и плоскостью рабочего стола (до 160 мм), что позволяет обрабатывать дно крупногабаритных деталей и расположить контрольные приборы или устройства для развертки электронного луча в пространстве между линзой и деталью. Установленные на пути электронного луча диафрагмы (7) пропускают только центральную часть, обрезая краевые рассеянные электроны. Стигматор (корректирующие катушки) (б) позволяют исправлять поперечное сечение луча до правильного круга в тех случаях, когда возникает искажение формы из-за дефектов изготовления полюсных наконечников магнитных линз. Отклоняющая система (Т2) позволяет перемещать луч во взаимно перпендикулярных направлениях и получать любое положение его на плоскости, а также плавно перемещать с заданной скоростью на площади 10 х 10 мм» При необходимости большего смещения луча, нарушающего остроту фокусировки, применяют устройства типа координатных или поворотных столов. Так как электроны пучка в рабочей камере (13) должны доходить до детали без потерь энергии и без рассеяния луча, то необходимо во все время технологического процесса поддерживать в камере давление не более 1,3(10-2-10-3) Па, что достигается применением диффузионных насосов в сочетании с механическими. Основные энергетические параметры электронного луча следующие. 1. Электроны в электрическом поле приобретают энергию: (6.1) We=mV2/2=eU , где m и e - масса и заряд электрона, V- скорость электронов, U- пройденная электроном разность потенциалов. 2. Скорость электронов при попадании на обрабатываемую поверхность: (6.2) V=(2eUп/m)1/2 , где Uп - разность потенциалов между катодом излучателя и обрабатываемой поверхностью. Энергия электронов, покидающих излучатель составляет 100 кэВ, а их скорость 106-107 м/с и выше. 3. Мощность электронного луча (6.3) q= IлUп , где Iл - ток в луче.
4. Удельная мощность в луче (6.4)
где dл - диаметр луча на обрабатываемой поверхности. Сфокусированный поток электронов, падая на поверхность материала, осуществляет разогрев вещества в зоне ограниченной диаметром луча и глубиной пробега электронов (6.5)
где
При размерной обработке наиболее целесообразным является импульсный режим воздействия луча на материал. Время паузы режима выбирается из расчета того, чтобы продукты выброса успевали эвакуироваться из зоны обработки и луч не рассеивался на стенки образованного канала» Применение такого режима позволяет в образцах из коррозионностойкой стали ползать отверстия глубиной до 60 мм и диаметром до 2 мм.
Длительность импульса (6.6) где L исп - удельная энергия взрывного вскипания данного материала, численно равная удельной теплоте испарения. Оптимальные значения скважности (G) импульсного режима находятся в пределах
где а- коэффициент температуропроводности металла.
На практике используют длительности импульсов от 1 мкс до 0,01 с при частоте повторения от единиц до 104 Гц. Обычно для ЭЛРО применяют установки с анодным напряжением 80-150 кВ при токе в луче в пределах 0,3-20 мА и диаметре луча 0,5-500 мкм.
Наибольшее распространение имеет ЭЛРО тонких материалов, глубина обработки которых не превышает 0,5-1,0 мм для металлов и 2-5 мм для диэлектриков. Следует отметить, что процесс обработки диэлектриков существенно отличается от обработки металлов. Одной из причин этого является возникновение на поверхности изделия отрицательного заряда, снижающего энергию электронов пучка, вызывающего расфокусировку и искажение формы, а также увеличение диаметра пучка. В результате на диэлектрике разогревается участок много больший по диаметру, чем в случав облучения металла.
Кроме этого низкая теплопроводность диэлектриков и высокие удельные мощности в луче приводят к образованию высоких температурных перепадов, которые вызывают значительные остаточные термические напряжения, приводящие к растрескиванию изделий. Для устранения растрескивания обработку диэлектриков производят с предварительным или сопутствующим подогревом заготовок, а также с последующим отжигом их для полного снятия напряжений. Размерная обработка электронным лучом применяется для получения отверстий фигурной или цилиндрической формы малых диаметров (2-500 мкм), тонких пазов, щелей, прорезей размерами от нескольких десятков микрометров в материалах малой толщины (пленки, фольги), а также для разрезки материалов (полупроводников, ферритов, сверхчистых материалов и др.), особенно когда к поверхностям реза предъявляются особые требования. Профиль отверстия, полученного ЭЛРО, представлен на рис.6.1 в. При небольших глубинах (Н) обработки диаметр отверстия ( d ) на 10 % больше диаметра электронного пучка dл , а при H/d >= 100 диаметр луча должен быть в два - четыре раза меньше отверстия. В настоящее время промышленность не выпускает установок, способных обеспечить постоянный минимальный диаметр луча на большом его отрезке. Поэтому, как правило, обработка отверстия ведется с изменением фокусного расстояния магнитной линзы по мере углубления отверстия. Точность ЭЛРО находится в пределах 8-11 квалитета, а шероховатость получаемой поверхности составляет Rz=20-3 мкм и зависит от диаметра пучка, длительности импульсов, мощности пучка и теплофизических свойств обрабатываемого материала. Прошитые отверстия имеют конусность, величина которой зависит от расположения фокуса луча относительно поверхности заготовки и составляет 1-5о. (рис. 6.1в). В промышленности ЭЛРО применяется для изготовления деталей с числом отверстий от нескольких тысяч до нескольких миллионов, для получения отдельных отверстий в кварцевых пластинах, для обработки микроминиатюрных электронных схем, резки ферритов для «памяти» ЭВМ и т.д. Для выполнения вышеперечисленных операций наибольшее применение получила электронно-лучевая установка ЭЛУРО, на которой также можно осуществлять разметку, локальное легирование, прецизионную пайку, сварку и другие операции. Столь универсальное применение она имеет благодаря возможности регулирования в широких пределах общей и цельной мощности. В процессе обработки может быть использовано программное устройство для управления перемещениями деталей и электронного .пуча. В последние годы созданы установки, в которых программное управление перемещениями осуществляется от ЭВМ.
Популярное: Модели организации как закрытой, открытой, частично открытой системы: Закрытая система имеет жесткие фиксированные границы, ее действия относительно независимы... Как вы ведете себя при стрессе?: Вы можете самостоятельно управлять стрессом! Каждый из нас имеет право и возможность уменьшить его воздействие на нас... Организация как механизм и форма жизни коллектива: Организация не сможет достичь поставленных целей без соответствующей внутренней... Генезис конфликтологии как науки в древней Греции: Для уяснения предыстории конфликтологии существенное значение имеет обращение к античной... ![]() ©2015-2024 megaobuchalka.com Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав. (1549)
|
Почему 1285321 студент выбрали МегаОбучалку... Система поиска информации Мобильная версия сайта Удобная навигация Нет шокирующей рекламы |